Podczas prezentacji zostały poruszone tematy z zakresu niezawodności elektroniki oraz odpowiedzieliśmy na pytania czym jest czas życia produktu, jak poszczególne komponenty mogą na niego wpływać oraz jak zmniejszyć ilość urządzeń wracających do serwisu w czasie trwania gwarancji. Pokazane zostały również metody PoF (Physics-of-Failture) i DfM (Design for Manufacturability) oraz jak, korzystając z tych metod, możemy zlokalizować i wyeliminować problemy związane z uszkodzeniami wynikającymi z działania temperatury, drgań, naprężeń, a także jak proces produkcji i transportu wpływa na niezawodność.
Nagranie pochodzi z webinarium "Niezawodność elektroniki" z dnia 21.05.2021r. i jest w języku angielskim.
Więcej informacji na: https://mesco.com.pl/blog/239-blog-em/1216-analizy-niezawodnosci-ukladow-elektronicznych
